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文件下载GB/T 2423.25-2008/IEC 60068-2-40:1976 电工电子产品环境试验 第2部分∶试验方法 试验Z/AM∶低温/低气压综合试验
1 引言
1.1 概述
GB/T 2423的本部分是关于散热和非散热试验样品低温（温度渐变或突变）和低气压综合试验，见8.2.2和8.2.8。
本试验目的是确定元件、设备和其他产品对其贮存和使用中遇到的低温-低气压综合环境的适应性。
本综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。
本部分规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品。
1.2 低气压
本试验程序适用于气压大于1kPa的压力试验。当气压小于或等于1kPa时，可不必考虑试验程序的内容。
本部分没有指明高度、压力和温度的关系。三者的关系见门标准。
1.3 温度
1.3.1 GB/T 2423.1试验A中有关非散热试验样品和散热试验样品试验应用对比的指导适用于本部分。
注∶非散热试验样品的定义按GB/T2421相关的规定，不应在低气压下测量其热点的温度。
1.3.2 GB/T 2423.1试验 A中散热试验样品应该优先在无强迫空气循环的试验箱中进行试验。
2 目的
提供标准试验程序以确定元件、设备或其他产品在低温/低气压综合环境使用和/或贮存的适应性。
3 一般说明
本试验是GB/T2423.1试验Ab或试验Ad和GB/T2423.21试验M的综合。
试验中，试验样品先应经受相关规范规定的严酷度等的低温试验。如果试验过程中试验样品要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常工作。然后在温度保持规定值的情况下，将试验箱压力降到相关规范规定的试验压力。将此温度、压力条件保持规定时间。
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