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型号：DR-H308
产品价格：电议 采购度：153 发布时间：2023/12/6 13:45:58
仪器产地：中国大陆 所属地区： 广东 东莞市
简要描述： DR-H308泰州芯片PCT老化试验箱产品简介:PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时
DR-H308泰州芯片PCT老化试验箱产品简介:
PCT高压老化试验箱的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
DR-H308泰州芯片PCT老化试验箱技术参数：
规格
1.内箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圆形试验箱.
2.外箱尺寸: 600×920×690 mm(W×H×D)
3.内箱材质 : SUS 316#不锈钢板材质.
4.外箱材质： 高烤漆。
5.温度范围 : 105℃～132℃. (饱和蒸气温度).
6.湿度范围 : 100%RH . (饱和蒸气湿度).
7.压力范围（表上压力） : 0.2Kg/cm2～2.0 Kg/cm2或（2.2 Kg/cm2）控制点压力 (安全压力容量3.5Kg/cm2 ).
8.时间范围: 0 ～ 999 小时可调.
9.温度分布: ≤± 2.0℃.
10.升温时间:常温 ～ 135℃约40分钟内. （控制点温度）.
11.加压时间:0.0Kg/cm2 ～ 2.2Kg/cm2 约45分钟内（控制点压力）.
12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.
13.控制方式:微电脑PID控制.
14.控制精度: ≤± 0.5℃.
15.解析精度:0.1℃.
芯片PCT老化试验箱
压力与温度对照表
| 压力 | 温度 | 压力 | 温度 |
| 0.5㎏/㎡ | 110℃ | 1.5㎏/㎡ | 127℃ |
| 1.0㎏/㎡ | 121℃ | 2.0㎏/㎡ | 132℃ |
二、机械结构:
1. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.
2. 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.
3. 水管采用铜管+喇叭口，精密设计,气密性良好,耗水量少。
4. 用型packing ,材质：耐高温夕胶发泡成型，内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式*不同,可延长packing寿命.
6. 增加空气洁净度技术.以确保箱内之纯净度.
7. 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.
8. 机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.
9. 水箱采用16L大容量水箱，置于箱体底部，采用新主动式自动补水系统，有效防止加热管干烧；试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.
芯片PCT老化试验箱订购说明
一、产品概述
芯片PCT老化试验箱是一种用于模拟芯片在高温、高湿、高压等端环境下的老化性能的设备。它通过精确控制温度、湿度和压力等参数，模拟芯片在实际使用过程中可能遇到的各种环境条件，从而评估芯片的可靠性和稳定性。
二、产品特点
高精度温度控制：采用的PID算法，实现高精度温度控制，确保试验过程中温度波动在±0.5℃以内。
高湿度模拟：采用的湿度控制系统，模拟芯片在高温、高湿环境下的老化性能。
高压模拟：可模拟芯片在实际使用过程中可能遇到的高压环境，从而评估芯片的耐压性能。
自动化操作：设备具备自动加湿、自动除湿、自动计时等功能，方便用户进行试验操作。
多功能接口：设备具备多种通讯接口，可与外部设备进行数据传输和控制。
三、订购说明
订购流程： a. 联系销售代表，提供产品需求和预算信息。 b. 销售代表根据需求和预算提供产品方案和报价。 c. 确认方案和报价后，签订合同并支付定金。 d. 设备生产、发货、安装、调试及验收。 e. 支付尾款，完成验收。
订购注意事项： a. 确定设备尺寸和规格，以满足实际使用需求。 b. 根据设备参数选择合适的电源、水源和气源。 c. 根据设备要求选择合适的安装场地和环境。 d. 在签订合同，确认设备保修期、售后服务及技术支持等条款。 e. 在验收过程中，确保设备符合合同规定的质量和技术要求。
四、总结
芯片PCT老化试验箱是一种重要的芯片老化性能评估设备，对于提高芯片的可靠性和稳定性具有重要意义。在订购过程中，用户需根据实际需求选择合适的设备型号和规格，并注意确认设备的质量和技术要求。同时，在安装和使用过程中，用户需按照设备说明书进行操作和维护，以确保设备的正常运行和使用寿命。
更新时间：2024/5/15 8:09:23
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