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型号：
产品价格：电议 采购度：156 发布时间：2024/1/1 10:04:22
仪器产地：中国大陆 所属地区： 广东 清远市
简要描述： HAST加速老化试验箱产品简介：HAST/HALT试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快
HAST加速老化试验箱产品简介：
HAST/HALT试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。高压加速老化试验箱采用新优化设计，美观大方、做工精细，对应 IEC60068-2-66 条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。
HAST加速老化试验箱试验标准：
GB/T2423.40-2013电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽
HAST高压加速老化试验箱
◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
◆采用高效真空泵，使箱内达到佳纯净饱和蒸汽状态。
◆采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。
◆汽车硅胶整体密封条，气密性好，耐用。
◆全自动补水功能,置式水位确认。
◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式
HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化试验箱是一种用于模拟高温高湿环境条件下进行快速老化测试的设备。它被广泛应用于电子和电气产品、半导体器件等域，用于评估产品在恶劣环境下的可靠性和耐久性。
HAST加速老化试验箱的主要用途包括：
可靠性评估：通过模拟高温高湿环境，加速产品老化过程，评估产品在长期使用中的可靠性和寿命。可以帮助制造商和研发人员了解产品在实际使用中可能出现的问题，从而进行改进和优化。
产品筛选：在产品生产过程中，通过进行HAST加速老化测试，可以筛选出具有较低故障率和更高质量的产品。这有助于提高产品的质量和可靠性，并减少售后维修和退换货的成本。
设计验证：在产品开发的早期阶段，使用HAST加速老化试验箱可以对新设计的产品进行验证。通过暴露产品于高温高湿环境，可以检测潜在的设计缺陷和弱点，并及时进行改进。
品质控制：HAST加速老化试验箱可以用于质量控制和批量生产过程中的产品检测。通过对样品进行HAST测试，可以确保产品符合规定的可靠性标准和性能要求。
HAST加速老化试验箱是一种重要的测试设备，用于评估产品在高温高湿环境下的可靠性和耐久性。它在电子、半导体等行业中发挥着关键作用，帮助企业提高产品质量、优化设计并降低故障率。
更新时间：2024/5/17 8:11:12
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