产品详情

pct高压加速老化试验机用途：

主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCT主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

PCT加速试验机特点：

◆ 真空泵浦设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性；

◆ 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转300小时；

◆ 干燥设计，试验终止采真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥；

◆ 水位保护，透过炉内水位Sensor检知保护；

◆ 耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6k；

◆ 二段式压力**保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置；

◆ 保护排压钮，警急**装置二段式自动排压钮；

PCT高压加速老化试验机产品详情：

◎加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

◎用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

◎随着半导体可靠性的提高,目大多半导体器件能承受*的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(电工委员会)所标准化。注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。